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金凱博功率半導體高精度靜態特性測試系統KC-3110
了解更多金凱博功率半導體高精度靜態特性測試系統KC-3110，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。本系統可以在3KV和1000/2000A的條件下實現精確測量和參數分析，漏電流測試分辨率高達fA級，電壓測試分阱率最高可這nV級，以及3000V高壓下的寄生電容的精密測量。全自動程控軟件，圖型化上位機操作界面。內置開關切換矩陣保證測試效率。模塊化結構設計預留升級擴展潛能。測試接口可外掛各類夾具和適配器，還能夠通過專用接口連接各種Handler：如分選機、機械手、探針臺、編帶機等。
